2025-09-08 18:25 浏览次数 15
型掺杂剂
Then we found then type dopant (Si), the p type dopant (Mg), and the defect N-vacancy related with admittance measurement.
而由导纳量测的结果发现,样品中含有来自于n型掺杂的硅(Si)、p型掺杂的镁(Mg)和一个可能与氮空缺(N-vacancy)有关的缺陷。